Analýza kontaminácie komponentov – doplnkové metódy (SEM/EDX; LIBS; Raman)

Medzi pokročilejšie metódy doplnkových analýz kontaminácie patria:

SEM/EDX – kombinovaná analýza elektro-optického počítania a merania extrahovaných častíc pomocou elektrónového mikroskopu (SEM) a energetickej analýzy prostredníctvom röntgenovej spektrometre(EDX).

LIBS – (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) Laserom budená plazma – je emisná spektroskopia, ktorá umožňuje analýzu prvkov, z ktorých sú materiály zložené. Využíva sa pre zisťovanie materiálu extrahovaných častíc s cieľom nasadenia najefektívnejšieho čistenia v prevádzke.

Raman – je spektroskopia založená na vzniku vlnenia, ktoré umožňuje analýzu štruktúry častíc.

Prostredníctvom doplnkových analýz kontaminácie dokážeme identifikovať štruktúru častíc s cieľom identifikovať pôvod znečisťovania.

Využitím najmodernejších technológií a postupov detegujeme častice v súlade s medzinárodnými požiadavkami VDA 19.1 a ISO 16232.

Objednávka

Meno a Priezvisko*
Email*
Tel. číslo*
Poznámka
Príloha*
Maximum file size: 20 MB
Nahrajte podklady vo formáte: word, excel, pdf, jpeg, gif, png, zip, rar s maximálnou veľkosťou 20mb